A22NeXT 新型激光粒度儀 的 優(yōu) 勢

• 契合您需求的測量范圍

• ANALYSETTE 22 NeXT 微米型 0.5–1500 µm

• ANALYSETTE 22 NeXT 納米型 0.01–3800 µm

• 測量時間短，準(zhǔn)確度高

• 穩(wěn)定的重復(fù)性，有可靠的數(shù)據(jù)可比性

• 可移動部件少，大大提升了耐用性能，維護率低

• 操作簡單便捷，沒有死角設(shè)計保證清潔無殘留

• 設(shè)計緊湊，節(jié)省空間

全新升級的 A22NeXT 新型激光粒度儀 可以讓您根據(jù)自己的需求選擇測量范圍：ANALYSETTE22 NeXT 微米型測量范圍為0.5–1500 µm，用于大多數(shù)常規(guī)樣品的測量需求；擁 有 更 大 測 量 范圍 的ANALYSETTE 22 NeXT 納米型，測量范圍拓展至0.01-

3800μm，納米型激光粒度儀擁有高的測量精度，附加的檢測器能夠更靈敏的分辨極小的顆粒。

滿足您需求的決定性優(yōu)勢: 操作和清洗非常簡單，分析時間短，可靠的測量結(jié)果和重復(fù)性，也可以記錄額外的測量數(shù)據(jù)如濕法分散過程中體系的溫度及PH值，以較值的價格提供先進的技術(shù)，它將是您的明智選擇！

一鍵即可操作：借助ANALYSETTE 22 NeXT，精確測量粒徑變得非常簡單 - 即使只經(jīng)過簡短的說明且沒有操作經(jīng)驗的員工（例如，在收貨或運輸部門工作的員工），A22其強大的產(chǎn)品性能將發(fā)揮他的優(yōu)勢。使用前僅需簡單介紹就能夠使用了；絕大多數(shù)操作設(shè)備能夠自動運行。

FRITSCH 優(yōu) 勢

結(jié)構(gòu)設(shè)計

經(jīng)過巧妙升級的測量單元設(shè)計使ANALYSETTE 22 NeXT特別緊湊且節(jié)省空間。

FRITSCH 優(yōu) 勢

極短的測量時間

ANALYSETTE 22 NeXT可以在不到一分鐘的時間內(nèi)完成大多數(shù)測量，包括可靠的沒有死角清潔。

FRITSCH 優(yōu) 勢

全自動分析

粒度分析的完整計算分析會自動進行，并在屏幕上直接將清晰的結(jié)果呈現(xiàn)給您。 當(dāng)然，您也可以保存并打印出根據(jù)需要定制的報告。

杰出的售后支持

購買ANALYSETTE 22 NeXT之后，我們將提供安裝，定制軟件詳細信息和培訓(xùn) – 我們的服務(wù)將快速而靈活。

FRITSCH總部的專家可通過遠程維護為您提供幫助。

可 靠 的 測 量 結(jié) 果

國際標(biāo)準(zhǔn)認證的高重復(fù)性

The ISO 13320 (激光粒度儀-激光衍射法) 對于激光粒度儀的重現(xiàn)性、重復(fù)性以及測量精度界定了一個低的標(biāo)準(zhǔn)，通過這個標(biāo)準(zhǔn)檢驗測量的準(zhǔn)確程度及可信度。FRITSCH ANALYSETTE 22 NeXT 嚴(yán)格符合甚至性能遠高于 ISO 13320 的要求。 這是 FRITSCH 的一貫作風(fēng)。

標(biāo)準(zhǔn)樣品顆粒

激光衍射測量粒徑是基于基本的物理關(guān)系，也就是說，從嚴(yán)格意義講，不需要儀器的校準(zhǔn)。然而，測量儀器應(yīng)定期檢測，以確保其功能可靠。為此，使用了各種標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料，以便對整個系統(tǒng)進行簡單、快速和可靠的檢查，來確保不同的應(yīng)用和粒徑范圍。

標(biāo)準(zhǔn)顆粒材料由FRITSCH提供，并與測量說明書一起交付，且附有粒徑的上限和下限的標(biāo)準(zhǔn)。上限和下限被國際的程序所確定（NIST 可追溯）。

關(guān)于 ISO 13320:

• 描述了基本的測量原理

• 概述了光學(xué)設(shè)計（激光衍射儀/粒度分析儀）的幾種變體• 提供使用適當(dāng)?shù)墓馍⑸淅碚摚ǚ颥樅藤M衍射或米氏散射）的標(biāo)準(zhǔn)

• 定義對測量結(jié)果的準(zhǔn)確性，可重復(fù)性和可重復(fù)性的檢查

• 提供優(yōu)化測量程序的建議

完 善 的 測 量 技 術(shù)

兩種測量單元用于不同的測量范圍

迄今為止，最新的 ANALYSETTE 22 NeXT 的運行方式與每個FRITSCH激光粒度儀一樣，采用的是FRITSCH發(fā)明的反向傅立葉設(shè)計，該設(shè)計現(xiàn)已確立為激光粒度儀設(shè)計通用標(biāo)準(zhǔn)。您的優(yōu)勢：在測量單元和檢測器之間沒有額外的光學(xué)元件。設(shè)計緊湊，部件最少，幾乎無需維護。

測量過程的強大優(yōu)勢:

• 僅使用單一波長光源：簡單，可靠，減小干涉誤差• 快速同時記錄所有散射數(shù)據(jù)

• 通過先進的16位轉(zhuǎn)換器技術(shù)對光強度進行高精度記錄

• 通過智能測量池設(shè)計還可以記錄非常寬的散射角

• 兩種型號具有不同的測量范圍

• 連續(xù)記錄激光輸出

• 快速自動光束調(diào)整

FRITSCH 優(yōu) 勢

單一波長激光光源 – 更快的測量

ANALYSETTE 22 NeXT 只使用單一波長的激光器工作，即使向后散射。因此，僅一次掃描即可記錄整個測量范圍。 這樣可以大大加快工作速度–必要時可以同時進行更多測量。并實時查看測量結(jié)果如何發(fā)展。

FRITSCH 優(yōu) 勢

極大的測量角度

在ANALYSETTE 22 NeXT中，測量單元與激光束的設(shè)置成一定角度，從而可以記錄到更大的散射角范圍。這項技術(shù)在納米范圍內(nèi)提供了高的分辨率和準(zhǔn)確性，并進一步優(yōu)化了相關(guān)算法。

FRITSCH 優(yōu) 勢

高效數(shù)據(jù)采集

ANALYSETTE 22 NeXT 具有先進的電子技術(shù)，其測量核心是極快的高分辨率轉(zhuǎn)換器，可同時記錄所有檢測器元件的信號。能夠在極短的時間將所有的散射光分布信號有效傳輸，掃描頻率可達到2K.z

FRITSCH 優(yōu)勢 極易清洗的樣品測量池

ANALYSETTE 22 NeXT的測量單元為實用的盒狀設(shè)計，可從儀器前方直接插入，無需使用復(fù)雜的工具即可輕松裝卸。

外部密封配件的拆卸也非常簡單，使其清潔過程極為方便快捷。測量池玻璃的更換可以在任何時間進行。